Treść książki
Przejdź do opcji czytnikaPrzejdź do nawigacjiPrzejdź do informacjiPrzejdź do stopki
2.TECHNIKISTOSOWANEWPOMIARACHNIERÓWNOŚCI
29
odstęppróbkowania,opartejnawarunku,abyponiżejwartościprogowejmieściłasięab-
solutnaróżnicamiędzywartościamiRaobliczonymidlaopisanychpowyżejdwóchpo-
wierzchni[1961].Wadąobutychmetodjestuwzględnianietylkozmianzachodzących
wkierunkupionowym(wysokość)zpominięciemtego,cosiędziejewkierunkachpo-
ziomych.Wrzeczywistościwłaściwościamplitudowemierzonejpowierzchnisąmało
wrażliwenazmianyodstępupróbkowania,oczympisałm.in.Chetwynd(wiążącodstęp
próbkowaniazfunkcjonalnymiwłaściwościamipowierzchni)[277].Zkoleibłędnydo-
bórodstępupróbkowaniazakłócacałąanalizęczęstotliwościową[98,1319].Metodaza-
proponowanaprzezLinaiin.[931]opierasięnaanalizieprzestrzennejwidmowej,jej
słabościąjestjednakkoniecznośćzmierzeniadużegoobszarupowierzchnizbardzoma-
łymodstępemprzedprzeprowadzeniemanalizywidmowej,jestwięcstosowanawukła-
dziesprzężeniazwrotnego.MetodętęudoskonaliłMainsah[997],wybierającprofilza-
miastpowierzchniwewstępnejfazieanalizyimodyfikującwarunkianalizywidmowej.
Kontynuującteprace,Dongiin.ustalilikryteriaanalizyodstępówpróbkowaniatopo-
grafiipowierzchni[405].Topodejściejestopartenawidmowejanalizieprofiluorazteo-
riipróbkowaniaNyquistaipodobniejakpracaMainsahamożebyćwykorzystanedodat-
kowodosprawdzeniapoprawnościdoborupromieniazaokrągleniawierzchołkakoń-
cówkipomiarowej.Zteoretycznegopunktuwidzeniazakładasię,żepunktypróbkowa-
niaoddalonesąorówneodstępyniezależnejzmiennej(czas,odległość).Zgodniezkry-
teriumNyquistapróbkowanieniepowodujestratyinformacji,jeślijegoodstępjest
mniejszyniżpołowanajmniejszejdługościfaliwystępującejwsygnale.Nieprzestrze-
ganietejzasadypowoduje,żesygnałyowysokiejczęstotliwościzostająprzedstawione
tak,jakgdybyichdługośćfalibyławiększa(rys.10).Przyjęciedowolniedużegoodstę-
pupróbkowaniamożezatempowodowaćuzyskaniezupełnieabstrakcyjnejwartościda-
negoparametruiniewłaściwegokształtunierówności.Wpraktycepróbkowaniepowin-
nobyćznaczniegęstsze,niżtowynikazkryteriumNyquista[411],alezdrugiejstrony,
jeślijestzagęste,topunktynastępująceposobiemajątęsamąrzędną,asygnałjestbar-
dzoskorelowany,coutrudniaobliczenia.Pozatymnadmiernierozrastasięwówczasba-
zadanych,azboczaprofilumająniewłaściwekształty,ponieważróżnicamiędzysąsied-
nimipunktamijestzamaławstosunkudopoziomuzakłóceń.Ododstępupróbkowania
zależyliczbadanychzebranychzpowierzchni,azatemrównieższybkośćobliczeń.Od-
stęppróbkowaniamaponadtowpływnawartościparametrówchropowatościjakonatu-
ralnakonsekwencjawyborupunktówsygnałuciągłego.Jegowielkośćjestrównieżuza-
leżnionaodwielkościpromieniazaokrągleniakońcówki,ponieważprzyjęciebardzoma-
łychodstępówprzydużychpromieniachzaokrągleniabędzierównieżpowodowaćznie-
kształceniaprofilu.Wpraktyceprzystosowaniuprofilometrówwyposażonychwukłady
mikroprocesorowelubsprzężonychzmikrokomputeramiprzyjmujesięzwykleodstęp
próbkowaniawynoszącyod0,003do0,02długościodcinkaelementarnego.
Rys.10.Błądwprzedstawieniunierównościpowierzchniprzybłędnymodstępiepróbkowania
