Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Stanisław Adamczak

Uzyskaj dostęp

Zakup książkę

ISBN/ISSN:

978-83-01-23339-6

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Naukowe PWN

Rok wydania:

2023

Liczba stron:

439

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Bibliografia:

Adamczak, Stanisław. Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Red. . Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2023, 439 s. ISBN 978-83-01-23339-6

Bibliografia refWorks:

RT Book, Whole

SR Electronic(1)

A1 Adamczak, S.

T1 Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

PB Wydawnictwo Naukowe PWN

PP Warszawa

YR 2023

SN 978-83-01-23339-6

Bibliografia BibTex:

@Book{ 300489, author = "Adamczak, Stanisław", editor = "", title = "Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych", publisher = "Wydawnictwo Naukowe PWN", year = "2023", address = "Warszawa", isbn = "978-83-01-23339-6" }

Bibliografia endNote:

TY - BOOK

AU - Adamczak, Stanisław

ED -

TI - Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

PB - Wydawnictwo Naukowe PWN

CY - Warszawa

PY - 2023

SN - 978-83-01-23339-6

ER -

Netografia (standard APA):

Adamczak, Stanisław. Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych [baza danych online] Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2023 [dostęp: 07 07 2024]. Dostęp w Ibuk Libra: https://libra.ibuk.pl/reader/metrologia-geometryczna-powierzchni-technologicznych-stanislaw-adamczak-300489.

metrologia, tolerancje geometryczne, analiza powierzchni, falistość, cechy geometryczne, walcowość, prostoliniowość, płaskość, kulistość, przyrządy pomiarowe, błędy pomiarów, badania przyrządów

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profe...

Więcej

ISBN/ISSN:

978-83-01-23339-6

DOI:

Wydawnictwo:

Wydawnictwo Naukowe PWN

Rok wydania:

2023

Liczba stron:

439

XML:ISBN/ISSN:

ONIX MARC21

Od Autora13
1.1. Wstęp17
1. Informacje wprowadzające17
1.2. Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni20
1.2.1. Sposób przybliżony21
1.2.2. Sposób mechaniczno-geometryczny22
1.2.3. Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną23
1.2.4. Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego26
1.2.5. Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej28
1.3. Tolerancje geometryczne28
1.3.1. Zarysy kształtu29
1.3.2. Zarysy odnoszące się do kierunku34
1.3.3. Zarysy odnoszące się do położenia elementu38
1.3.4. Zarysy odnoszące się do bicia43
2.1. Podstawowa terminologia i definicje w ujęciu tradycyjnym48
2. Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni48
2.2. Podstawowa terminologia i definicje w nowym ujęciu50
2.3. Metody oceny zarysu okrągłości52
2.3.1. Analiza harmoniczna52
2.3.2. Parametry oceny zarysów okrągłości56
2.3.3. Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm63
2.4. Metody pomiaru zmian promienia67
2.4.1. Błędy przyrządów pomiarowych70
2.4.2. Nadzór metrologiczny przyrządów73
2.4.3. Program komputerowy ROFORM75
2.4.4. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych80
2.4.5. Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej83
2.5. Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości85
2.5.1. Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych85
2.5.2. Rodzaje metod odniesieniowych87
2.5.3. Zalecane parametry metod odniesieniowych93
2.5.4. Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty99
2.5.5. Komputeryzacja metod odniesieniowych106
2.5.6. Program komputerowy SAJD108
2.5.7. Sposoby realizacji metod114
2.5.8. Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości117
2.5.9. Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru123
2.6. Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych130
3.1. Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni136
3.1.1. Podstawowa terminologia i definicje136
3. Zarysy walcowości136
3.1.2. Parametry oceny zarysów walcowości139
3.1.3. Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości143
3.1.4. Strategie pomiarowe145
3.1.5. Ocena zarysów walcowości – zasady prowadzenia pomiarów156
3.1.6. Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości161
3.1.7. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych166
3.1.8. Program komputerowy CYFORM170
3.2. Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi172
3.2.1. Istota pomiarów zarysów walcowości172
3.2.2. Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości174
3.2.3. Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym176
3.2.4. Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości183
4.1. Podstawowe określenia i definicje187
4. Zarysy prostoliniowości187
4.2. Parametry oceny zarysów prostoliniowości189
4.3. Filtrowanie zarysów prostoliniowości191
4.4. Technika pomiarów zarysów prostoliniowości193
4.5. Program komputerowy LIFORM197
4.6. Przykłady pomiarów zarysów prostoliniowości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej198
5.1. Podstawowa terminologia i definicje200
5. Zarysy płaskości200
5.2. Parametry oceny zarysów płaskości202
5.3. Zasady prowadzenia pomiarów203
5.4. Strategie pomiarowe204
5.5. Przykłady pomiarów zarysów płaskości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej208
6. Niedomknięte zarysy kształtu212
7.1. Podstawowa terminologia i definicje223
7. Zarysy kulistości223
7.2. Parametry oceny zarysów kulistości224
7.3. Strategie pomiarowe227
7.4. Eksperymentalna weryfikacja opracowanej koncepcji pomiaru odchyłek kulistości strategią kombinowaną oparta na kontrolowanym obrocie230
7.4.1. Modelowe stanowisko badawcze do dokładnych pomiarów odchyłek kulistości230
7.4.2. Badania eksperymentalne233
8.1. Pomiary profilu239
8.1.1. Informacje podstawowe239
8. Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni239
8.1.2. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych247
8.1.3. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów252
8.1.4. Wzorce kontrolne i użytkowe260
8.1.5. Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni272
8.2. Pomiary przestrzenne279
8.2.1. Informacje wstępne279
8.2.2. Parametry oceny powierzchni w układzie 3D280
8.2.3. Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D284
8.2.4. Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni289
9.1. Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych301
9. Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu301
9.2. Program komputerowy PROFORM304
9.3. Kompleksowa ocena zarysu305
9.3.1. Ocena profilu chropowatości powierzchni305
9.3.2. Ocena profilu falistości powierzchni306
9.3.3. Ocena zarysu kształtu307
9.3.4. Statystyczna analiza wyników pomiaru308
9.4. Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej309
10.1. Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów311
10. Statystyczne badania porównawcze przyrządów311
10.2. Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości312
10.2.1. Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru313
10.2.2. Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru314
10.2.3. Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru315
10.2.4. Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia315
10.3. Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego317
10.3.1. Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji319
10.3.2. Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego321
11.1. Informacje podstawowe dotyczące metrologii ogólnej323
11. Przyrządy pomiarowe323
11.2. Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych324
11.2.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu329
11.2.2. Definicje dotyczące analizowanych profili331
11.2.3. Elementy składowe przyrządów stykowych332
11.2.4. Charakterystyki metrologiczne przyrządów335
11.2.5. Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu336
11.3. Metody przestrzennego pomiaru powierzchni337
11.3.1. Metody profilowania liniowego339
11.3.2. Metody topografii przestrzennej342
11.3.3. Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni351
11.4. Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości357
11.4.1. Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych358
11.4.2. Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości374
11.4.3. Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości377
11.5. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe)379
11.5.1. Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych381
11.5.2. Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych384
11.5.3. Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości386
11.6. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości389
11.6.1. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem391
11.6.2. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem394
11.6.3. Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni397
11.7. Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni404
11.7.1. Profilometry407
11.7.2. Kształtografy410
11.7.3. Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów413
11.7.4. Przyrządy optyczne415
Posłowie418
Literatura422
Załącznik435

1.3.Tolerancjegeometryczne

Ogólnieujmując,odchyłkękształtunależyzdefiniowaćjakonajwiększeodchylenie

(odległość)ustalonegopunktuzarysuodprzyjętychskojarzonychelementówzwanych

niekiedyodniesieniowymi.Itakdlapłaskichprzedmiotów-zarysówprostoliniowości

sąskojarzonelinieproste,adlazarysówpłaskich-płaszczyzny.Natomiastdlaprzed-

miotówobrotowych-zarysówokrągłości,sątoskojarzoneokręgi,adlazarysówwal-

cowości-walce.Równieżdlazarysówpołożeniapowinnosięzdefiniowaćodchyłkę

jakoodległośćmiędzywłaściwympołożeniemrozpatrywanejpowierzchni,osi,płasz-

czyznylubpunktuapołożeniemskojarzonym(nominalnym),czyligeometryczniepo-

prawnąpowierzchnią,osiąlubpunktemokreślonymwzględemelementuskojarzonego

(odniesieniowego)alboteżodchylenieanalizowanejpowierzchniwzględempołożenia

nominalnego.

Wnastępnymrozdzialeprzedstawionointerpretacjęgeometrycznątolerancjikształtu,

kierunkupołożeniaibicia,atakżeichzdefiniowaneodchyłki.Wceludokładniejszego

poznaniatychcechgeometrycznychwykonanospecjalnyprzedmiot,którypokaza-

nonarysunku1.11wpostaciizometrycznejuzyskanejwprogramieSolidWorks.

Rys.1.11.PrzykładowyprzedmiotwykonanynaobrabiarceCNCwykorzystanydopraktycznegoprzed-

stawieniaodchyłekkształtu,kierunkupołożeniaibicia

1.3.1.Zarysykształtu

Prostoliniowość–tolerancjaiodchyłka

Poletolerancjiprostoliniowościdlarozważanejpowierzchnijestograniczonedwiema

płaszczyznamiusytuowanymiwzględemsiebiewodległościt(rys.1.12).

Istniejerównieżmożliwośćwyznaczeniatolerancjiprzezdwierównoległeproste

wprzypadkuustaleniaprostoliniowościprzedmiotuwykonanegowpostaciwalca.

Parametremprostoliniowościjestodchyłkazdefiniowanajakonajwiększaodleg-

łośćmiędzyzarysemzaobserwowanymaprostąskojarzonąwyznaczonąmetodami

najmniejszejstrefylubnajmniejszychkwadratów.

Brak wyników

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Treść książki

Znajdź bibliotekę blisko siebie, i uzyskaj dostęp do ebooka w systemie IBUK Libra